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新款示波器探棒瞄準mV級電壓測試

全新的探棒與示波器前端結合后，使其成為量測低至1mV/div毫伏特等級極小訊號的理想選擇...

羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz；R&S)推出衰減系數(shù)1:1的被動探棒R&S RT-ZP1X，再次拓展了R&S示波器的應用范疇。

R&S探棒與示波器的前端僅有極小的雜訊，兩者結合使其成為量測低至1mV/div毫伏特等級極小訊號的理想選擇，如積體電路和元件的電源完整性測試。

現(xiàn)階段許多產業(yè)對于電源測試的要求明顯增加，尤其在嵌入式設計領域，開發(fā)人員藉由整合愈來愈多的功能模組到極小空間來降低系統(tǒng)功耗；因此，電源完整性測試在相關應用中是至關重要的。開發(fā)人員及工程師需要測量電路中毫伏特范圍的訊號，進而研究元件的雜訊特性。為了獲得更準確的量測結果，一款具有合適靈敏度、低雜訊的探棒是不可或缺的。

新款R&S RT-ZP1X被動探棒能夠和R&S RTE系列示波器(頻寬達2GHz)及R&S RTO1000/2000系列示波器(頻寬達4GHz)精準配合。該探棒搭配R&S RTE系列示波器，提供了電源完整性量測應用中最佳性價比的解決方案。即使在1MΩ輸入阻抗的情況下，示波器的低雜訊前端亦可實現(xiàn)低于650μVpp的背景雜訊(1mV/div、頻寬200MHz)。而一般示波器僅能在50Ω輸入阻抗下才能達到相同等級的雜訊值。

藉由高達每秒一百萬次的波形捕獲率，使用者可快速地獲得測量結果，完成長條圖和其他訊號分析。在16位元高解析度的縮放模式下，也可針對最小的訊號細節(jié)進行分析與觸發(fā)。

R&S RTE/RTO系列示波器基于硬體FFT可實現(xiàn)即時頻譜分析，方便使用者查找耦合的干擾訊號。獨特的區(qū)域觸發(fā)功能可在時域和頻域中透過圖形化的設置分離出異常狀況，并找出問題點。除了RTE和RTO之外，R&S RT-ZP1X被動探棒同樣可支援RTM和HMO系列示波器。